SMD3225貼片晶振頻率測試方法

JC-3195A高精度晶振測試儀

　　詳細資料

　　1． 概述

　　JC-3195A高精度晶振測試儀是用于測量石英晶體串聯(lián)諧振電阻Rr、串聯(lián)諧振頻率fs、負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL（機內(nèi)帶可調(diào)負載電容12.5pF～50pF，且等效電阻和諧振頻率直接讀數(shù)，激勵功率可調(diào)）。測量插座適合晶體引線寬度3.75~14.50mm。

　　2． 技術(shù)參數(shù)

　　頻率范圍： 1 ~ 60 MHz

　　頻段劃分：

　　1. 1 ~ 2.2 MHz

　　2. 2.2 ~ 5 MHz

　　3. 5 ~ 10 MHz

　　4. 10 ~ 20 MHz

　　5. 20 ~ 40 MHz

　　6. 40 ~ 60 MHz

　　測量網(wǎng)絡(luò)的終端電阻：源端 24 Ω；負載端 27 Ω。

　　起振電阻范圍：

　　1 ~ 10 MHz起振電阻范圍為0 ~ 500 Ω；

　　10 ~ 60 MHz起振電阻范圍為0 ~ 100 Ω。

　　阻值讀數(shù)范圍：

　　0 ~ 1999.9 Ω 誤差±(10+頻率MHz為單位時/10)%。

　　激勵功率范圍： 1.5 ~ 1200μW 誤差±25%

　　負載電容范圍： 12.5~50pF

　　頻率計測量準確度： 5 PPM。

　　頻率計數(shù)字顯示： 8位。

　　時基穩(wěn)定性： 短期：1×10 –7 / 秒 長期：2×10 –5 / 月。